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火焰水解法制备Si02—Ge02平面波导材料
引用本文:郑伟,吴远大,邢华,张乐天,李爱武,刘国范,张玉书.火焰水解法制备Si02—Ge02平面波导材料[J].光子学报,2002,31(Z2):253-256.
作者姓名:郑伟  吴远大  邢华  张乐天  李爱武  刘国范  张玉书
摘    要:本文采用火焰水解法(FHD)在单晶Si片上快速淀积SiO2/SiO2-GcO2厚膜,再经过高温玻璃化处理,获得了玻璃态的平面波导材料。下包层SiO2膜的厚度约为40μm,波长1550nm处的折射率为1.4462,芯层SiO2-GeO2膜的厚度为5μm,折射率为1.4631。分别采用XRD、XPS、SEM和椭偏仪等对波导材料表面特性和折射率等进行了测试分析。

关 键 词:火焰水解法  Si02-Ge02平面波导材料  玻璃态  折射率  表面特性  测试  二氧化硅  二氧化锗
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