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| 纵向莫尔条纹在自准直仪中的应用 | |
| 引用本文： | 吴文明,高立民,吴易明,吴璀罡.纵向莫尔条纹在自准直仪中的应用[J].光子学报,2008,37(12):2544-2547. |
| 作者姓名： | 吴文明 高立民 吴易明 吴璀罡 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710119;中国科学院研究生院,北京,100049 2. 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710119 |
| 摘 要： | 为了提高自准直仪的分辨力，将纵向莫尔条纹引入到光路中，用长光栅代替传统单狭缝，将长光栅成像在CCD检测器上，CCD作为标尺光栅，通过两个光栅叠加形成的莫尔条纹的变化可以将成像位移分辨率提高到亚像元，进而将自准直仪的角度分辨率提高到毫秒级.实验结果表明，相对于直接检测狭缝边缘的方法，莫尔条纹法的分辨力提高了25倍. |
| 关 键 词： | 光学细分 莫尔条纹 自准直仪 |
| 收稿时间： | 2007-05-17 |
| 修稿时间： | 2007-11-21 |
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