| 小波变换表征多层膜氧化层、界面层和膜厚漂移 |
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| 引用本文： | 蒋晖,徐敬,朱京涛,潘磊,代敏,谭默言,王占山,陈玲燕.小波变换表征多层膜氧化层、界面层和膜厚漂移[J].光子学报,2009,38(9). |
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| 作者姓名： | 蒋晖 徐敬 朱京涛 潘磊 代敏 谭默言 王占山 陈玲燕 |
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| 作者单位： | 同济大学,精密光学工程技术研究所,物理系,上海,200092 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，国家高技术研究发展计划，上海市科学技术委员会 |
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| 摘 要： | 用小波变换的方法分析了纳米多层膜的X射线掠入射反射率测试曲线.从小波变换的自相关函数峰位和峰强度信息中得到了常规曲线拟合方法难以表征的含有氧化层、界面层或厚度漂移的多层膜结构,利用其作为多层膜的初始结构再进行常规的曲线拟合,可实现多层膜结构精确表征的目的.研究成功地鉴别出钒单层膜的表面存在约3 nm厚的氧化层,分析得到Mo/Si多层膜的界面纯粗糙度约0.42 nm,表明在Ni/C多层膜中接近表面和基底的膜层存在大于5%的厚度漂移.
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| 关 键 词： | 薄膜光学 纳米多层膜 小波变换 自相关函数 氧化层 界面粗糙度 厚度漂移 |
Applications of the Wavelet Transform to Characterize the Oxide Layer,Interlayer and Thickness Fluctuation in Multilayer Structures |
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| JIANG Hui,XU Jing,ZHU Jing-tao,PAN Lei,DAI Min,TAN Mo-yan,WANG Zhan-shan,CHEN Ling-yan.Applications of the Wavelet Transform to Characterize the Oxide Layer,Interlayer and Thickness Fluctuation in Multilayer Structures[J].Acta Photonica Sinica,2009,38(9). |
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| Authors: | JIANG Hui XU Jing ZHU Jing-tao PAN Lei DAI Min TAN Mo-yan WANG Zhan-shan CHEN Ling-yan |
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