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基于传输线技术的零平均折射率(zero-n-)带隙的实验研究
引用本文:张利伟,杜桂强,许静平,王治国,张冶文.基于传输线技术的零平均折射率(zero-n-)带隙的实验研究[J].光子学报,2009,38(8).
作者姓名:张利伟  杜桂强  许静平  王治国  张冶文
作者单位:1. 河南理工大学,物理化学学院,河南,焦作,454003;同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092
2. 山东大学威海分校,空间科学与物理学院,山东,威海,264209;同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092
3. 同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092
基金项目:国家重点基础研究发展计划,国家自然科学基金,河南理工大学博士基金,山东省自然科学基金 
摘    要:基于传输线方法,制备了含左手材料和右手材料的一维光子晶体.通过仿真软件ADS的模拟和矢量网络分析仪的测量,研究了光子晶体的传输特性.实验结果表明:由左手材料和右手材料构成的一维光子晶体具有零平均折射率(zero-n-)带隙,这一带隙处于左手通带和右手通带之间.zero-n-带隙分别由零平均介电常量和零平均磁导率决定,进而对晶格尺度不敏感.

关 键 词:zero-n-带隙  左手材料  传输线

Experimental Study of Zero-average Refractive Index (Zero-n-) Gaps Based on Microstrip Transmission Lines
ZHANG Li-wei,DU Gui-qiang,XU Ji-ping,WANG Zhi-guo,ZHANG Ye-wen.Experimental Study of Zero-average Refractive Index (Zero-n-) Gaps Based on Microstrip Transmission Lines[J].Acta Photonica Sinica,2009,38(8).
Authors:ZHANG Li-wei  DU Gui-qiang  XU Ji-ping  WANG Zhi-guo  ZHANG Ye-wen
Abstract:
Keywords:
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