| 推扫型干涉成像光谱仪去除条带非均匀性的方法 |
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| 引用本文： | 曹玮亮,廖宁放,崔德琪,谭博能.推扫型干涉成像光谱仪去除条带非均匀性的方法[J].光子学报,2011,40(4):587-590. |
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| 作者姓名： | 曹玮亮 廖宁放 崔德琪 谭博能 |
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| 作者单位： | 北京理工大学光电学院颜色科学与工程实验室,北京,100081 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划 |
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| 摘 要： | 分析了推扫型干涉成像光谱仪的结构特点和工作原理,指出了由于加工误差导致入射狭缝的宽度不均匀,使干涉图像沿狭缝方向存在亮度差异,复原后的光谱立方体图像上出现平行于推扫方向的非均匀性条带,影响了光谱立方体的图像质量和光谱精确度.采取校正系数法去除条带,讨论了获取校正系数的方法,并使用仪器的定标干涉数据提取成像面上沿狭缝方向...
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| 关 键 词： | 推扫 干涉成像光谱仪 狭缝 去除条带 |
Stripe-reduction of the Push-broom Interferential Imaging Spectrometer |
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| CAO Wei-liang,LIAO Ning-fang,CUI De-qi,TAN Bo-neng.Stripe-reduction of the Push-broom Interferential Imaging Spectrometer[J].Acta Photonica Sinica,2011,40(4):587-590. |
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| Authors: | CAO Wei-liang LIAO Ning-fang CUI De-qi TAN Bo-neng |
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