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ITO导电薄膜透明图案对比度增强方法
引用本文:陈方涵,赵光宇,蒋仕龙,彭文达.ITO导电薄膜透明图案对比度增强方法[J].光子学报,2015,44(5).
作者姓名:陈方涵  赵光宇  蒋仕龙  彭文达
作者单位:1. 深圳大学光电工程学院光电子器件与系统(教育部/广东省)重点实验室,广东深圳518060;北京大学深圳研究院运动控制技术实验室,广东深圳518057
2. 华南师范大学华南先进光电子研究院光及电磁波研究中心,广州,510006
3. 北京大学深圳研究院运动控制技术实验室,广东深圳,518057
4. 深圳大学光电工程学院光电子器件与系统(教育部/广东省)重点实验室,广东深圳,518060
摘    要:铟锡氧化物(Indium Tin Oxide,ITO)导电层是触控显示技术的绝对定位元件,为保障定位的灵敏性和准确性,需对导电层表面缺陷进行质量检测.本文针对导电层透明区域机器视觉自动检测存在的问题,提出了图案对比度增强的方法.该方法首先利用ITO材料的光谱属性及其表面光学特性,设计出用于ITO导电层检测的近红外同轴光照明,将图像对比度从零提高到4.5%.在通过光学方法实现了对比度从无到有的转变后,充分利用数字图像预处理的优势,结合基于小波变换的非线性增强方法,最终成功将对比度提高至16%,为后续ITO导电层缺陷的分析和识别提供了良好保障.

关 键 词:机器视觉  小波变换  LED照明  表面缺陷  图像增强  透明导电薄膜  缺陷识别

Contrast Enhancement Method for Transparent Pattern of Indium Tin Oxide Conductive Film
CHEN Fang-han,ZHAO Guang-yu,JIANG Shi-long,PENG Wen-da.Contrast Enhancement Method for Transparent Pattern of Indium Tin Oxide Conductive Film[J].Acta Photonica Sinica,2015,44(5).
Authors:CHEN Fang-han  ZHAO Guang-yu  JIANG Shi-long  PENG Wen-da
Abstract:
Keywords:Machine vision  Wavelet transform  LED illumination  Surface defects  Image enhancement  Transparent conductive film  Defect recognition
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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