首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用于印刷电路板缺陷检测的光学视觉
引用本文:王继锁,王传奎.用于印刷电路板缺陷检测的光学视觉[J].光子学报,1994,23(6):576-580.
作者姓名:王继锁  王传奎
作者单位:聊城师范学院光通信研究所,中国高等科学技术中心(世界实验室)
摘    要:本文提出了一种利用光学形态变换探测印刷电路板缺陷的新方法。以非相干光学相关器为基础,构成了一个实现印刷电路板微小缺陷检测的形态变换光学视觉系统给出了原理性实验结果。

关 键 词:形态变换  缺陷检测  印刷电路板  光学视觉
收稿时间:1993-10-20

AMPLITUDE NTH-POWER SQUEEZING CHARACTERISTICS OF A NEW OPTICAL FIELD SUPERPOSITION STATES
Wang Jisuo, wang Chuankui.AMPLITUDE NTH-POWER SQUEEZING CHARACTERISTICS OF A NEW OPTICAL FIELD SUPERPOSITION STATES[J].Acta Photonica Sinica,1994,23(6):576-580.
Authors:Wang Jisuo  wang Chuankui
Institution:Applied Physics Department, Harbin Institule of Technology Harbin 150001, China
Abstract:In this paper,we discuss the amplitude N-th-power squeezing characteristics of the optical field which involves vacuum state,two-photon Fock state and n-photon(n >3)Fock states.
Keywords:Superposition state  Higher-order squeezing  Amplitude N-th-power squeezing
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
点击此处可从《光子学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光子学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号