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| X射线激光干涉对晶体精密测量 | |
| 作者单位： | ;1.浙江大学地球科学学院;2.浙江大学物理系 |
| 摘 要： | 基于X射线激光脉冲短、单色性好、能量高而且相干程度高的优点,本文从理论上提出X射线激光干涉用于对晶体结构及缺陷的测量。由于X射线激光波长量级为10~(-10) m,因此可实现高精密测量。此外,本文给出了X射线激光测量晶体的装置、缺陷晶体的测量模型和晶体参量的测量模型。 |
| 关 键 词： | X射线激光 干涉 精密测量 模型 |
Precise Measuring of Crystals by X-Ray Laser Apparatus Interference |
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