| 越窑青瓷釉层元素组成的SRXRF无损分析及其在考古学中的应用 |
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| 引用本文： | 范东宇,冯松林,徐清,雷勇,冯向前,程琳,黄宇营,何伟,权奎山,沈岳明.越窑青瓷釉层元素组成的SRXRF无损分析及其在考古学中的应用[J].中国物理 C,2003,27(Z1):101-104. |
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| 作者姓名： | 范东宇 冯松林 徐清 雷勇 冯向前 程琳 黄宇营 何伟 权奎山 沈岳明 |
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| 作者单位： | 1 中国科学院高能物理研究所核分析室 北京 100039;2 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室 北京 100039;3 北京大学考古文博学院 北京 100871;4 浙江省文物考古所 杭州 310000 |
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| 摘 要： | 利用同步辐射X荧光(SRXRF)无损分析研究了越窑青瓷的釉面元素组成,探讨了越窑古瓷无损分析的可行性实验方法.对寺龙口越窑6个文化期的古青瓷样品进行了无损分析,选用晚唐时期荷花芯越窑的古青瓷样品作对比分析.实验数据经统计分析后表明,寺龙口越窑古青瓷具有较明显的年代特征和产地特征,不同文化期烧制的青瓷样品具有一定的相关性.
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| 关 键 词： | SRXRF 越窑青瓷 统计分析 |
| 收稿时间： | 2003-11-21 |
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