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BES-Ⅱ TOF数据的离线刻度
引用本文:荣刚,赵家伟,刘琦,薛生田,陈光培,李佩琴,刘靖,毛泽普,李卫国,邱进发,徐春成,谢跃红,袁野,赵海文.BES-Ⅱ TOF数据的离线刻度[J].中国物理 C,2001,25(2):154-159.
作者姓名:荣刚  赵家伟  刘琦  薛生田  陈光培  李佩琴  刘靖  毛泽普  李卫国  邱进发  徐春成  谢跃红  袁野  赵海文
作者单位:[1]中国科学院高能物理研究所,北京100039 [2]中国科学技术大学近代物理系,合肥230026
基金项目:国家自然科学基金!(19991480,19825116),中国科学院九五重大及特别支持项目!(KJ95T—03)资助
摘    要:简要地讨论了北京谱仪-Ⅱ(BES-Ⅱ)飞行时间计数器(TOF)数据的离线刻度.利用J/φ能区的电子对事例仔细完成的离线刻度与校正结果表明,新的TOF时间分辨达到σTOF=180ps.由此大大增强了对带电粒子的识别能力.对于3σ的π/K分离其动量可以达到0.93GeV/c.

关 键 词:北京谱仪  飞行时间计数器  数据离线刻度  时间分辨本领  粒子识别
收稿时间:2000-2-12
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