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| τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法 | |
| 引用本文： | 钱诚德,冯胜,童国梁,吴义根.τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法[J].中国物理 C,1998,22(5):388-392. |
| 作者姓名： | 钱诚德 冯胜 童国梁 吴义根 |
| 作者单位： | 上海交通大学应用物理系，中国科学院高能物理研究所 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金，上海交通大学科研基金 |
| 摘 要： | 北京谱仪(BES)合作组通过τ→eνν衰变的电子能谱测定Michel参数,本文利用BES在质心系能量4,03GeV处获取的e+e－对撞数据,通过BES给出的带电粒子dE/dx、β、E/p测定值及其适当组合,实现了电子的有效识别. |
| 关 键 词： | Michel参数 τ轻子衰变 电子识别 两维散点图 |
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