| 同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算 |
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| 引用本文： | 康士秀,孙霞,姚琨,吴自勤,黄宇营,巨新,冼鼎昌.同步辐射X荧光分析中的逃逸峰的测量和计算[J].中国物理 C,2001,25(Z1):39-43. |
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| 作者姓名： | 康士秀 孙霞 姚琨 吴自勤 黄宇营 巨新 冼鼎昌 |
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| 作者单位： | 康士秀（中国科学技术大学天文与应用物理系,合肥,230026）;孙霞（中国科学技术大学天文与应用物理系,合肥,230026）;姚琨（中国科学技术大学天文与应用物理系,合肥,230026）;吴自勤（中国科学技术大学天文与应用物理系,合肥,230026）;黄宇营（中国科学院高能物理研究所,北京）;巨新（中国科学院高能物理研究所,北京）;冼鼎昌（中国科学院高能物理研究所,北京） |
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| 摘 要： | Si(Li)探测器引起的同步辐射X射线荧光(SR-XRF)谱中的逃逸峰,严重干扰利用XRF谱进行的定性和定量分析.对实验中的逃逸峰进行了鉴别.测定了14个样品的从K Kα到As Kα12个元素的标识谱的逃逸峰的强度和峰位.比较了逃逸峰与最近主峰能量差的实验值和标准值,一般误差小10%.用简化的X射线激发的Si Kα分布出射模型,计算元素逃逸峰强和其主峰强的比值,发现随原子序数增加,实验和理论比值都从约1%下降到0.1%左右.
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| 关 键 词： | 同步辐射X射线荧光 Si(Li)探测器 逃逸峰 |
Measurement and Calculation of Escape Peak in SR-XRF Analysis |
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