| 同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用 |
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| 引用本文： | 姜晓明,贾全杰,郑文莉,刘鹏,冼鼎昌,蒋最敏,王迅.同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用[J].中国物理 C,2000,24(12):1185-1190. |
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| 作者姓名： | 姜晓明 贾全杰 郑文莉 刘鹏 冼鼎昌 蒋最敏 王迅 |
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| 作者单位： | [1]中国科学院高能物理研究所,北京 [2]复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海 |
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| 基金项目： | 中国科学院资助项目，19834050， |
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| 摘 要： | 利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪,建立了掠入射X射线衍射实验方法.对Si表面生长的Ge/Si量子点及其在Si表层产生的应变进行了成功测量,表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号.实验结果表明,Ge/Si量子点的形成除了在Si衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外,还在Si衬底中形成了具有横向压缩应变的区域.
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| 关 键 词： | 掠入射衍射 表层结构 量子点 微弱信号 |
| 收稿时间： | 1999-12-23 |
Development of Synchrotron Radiation X-Ray Grazing Incident Diffraction Method |
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| JIANG XiaoMing,JIA QuanJie,ZHENG WenLi,LIU Peng,XIAN DingChang,JIANG ZuiMin,WANG Xun.Development of Synchrotron Radiation X-Ray Grazing Incident Diffraction Method[J].High Energy Physics and Nuclear Physics,2000,24(12):1185-1190. |
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| Authors: | JIANG XiaoMing JIA QuanJie ZHENG WenLi LIU Peng XIAN DingChang JIANG ZuiMin WANG Xun |
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