首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


An approach to the study of strong-field laser-induced autoionization
Authors:R Buffa  J K Spong
Institution:(1) Edward L. Ginzton Laboratory, Stanford University, 94305 Stanford, CA;(2) Present address: Dipartimento di Fisica, Università di Firenze, 50125 Firenze, Italia
Abstract:Summary An approach is presented to the study of laser-induced autoionization which usescomplex dressed states as a basis, instead of the commonly used Fano eigenstates. The complex dressed states are the eigenstates of an effective Hamiltonian governing the equations of motion for the atomic probability amplitudes in the broad background assumption and in the rotating frame at the laser frequency. The electron and photon spectra are described in terms of the eigenvalues associated with the complex dressed states.
Riassunto Viene presentato un approccio allo studio dell'autoionizzazione indotta da laser che, al posto degli autostati di Fano, utilizza quale base una coppia distati vestiti complessi. Tali stati sono gli autostati di una hamiltoniana effettiva che governa le equazioni di moto per le ampiezze di probabilità atomiche in un sistema di riferimento ruotante alla frequenza del laser e nell'ipotesi di continuo largo. Gli spettri di elettroni e fotoni sono descritti in termini degli autovalori associati agli stati vestiti complessi.

Резюме Предлагается подход к исследованию автоионизации, индуцированной лазерным сильным полем, в котором используются, как, базис, комплексные “одетые” состояния, вместо обычных собственных состояний Фано. Комплексные “одетые” состояния представляют собственные состояния эффективного гамильтониана, определяющего уравнения движения для амплитуды вероятности атома во вращвющейся системе отсчета с лазерной частотой и в предположении широкого континуума. Электронные и фотонные спектры описываются в терминах собственных значений, связанных с комплексными “одетыми” состояниями.
Keywords:Photon interactions with atoms
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号