首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量
引用本文:应晓浒,林振兴.X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量[J].光谱实验室,2000,17(1):78-81.
作者姓名:应晓浒  林振兴
作者单位:宁波出入境检验检疫局,浙江省宁波市柳汀街144号,315010
摘    要:本文采用Li2B4O7:LiBO2=12:22作熔剂制备氟石熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定氟石中的CaF2、SiO2、Fe2O3、SO3、P2O5。本法测量 准确度、精密度较好,所得结果与湿法化学分析结果一致。

关 键 词:氟石  X射线光谱法  氟化钙  杂质
文章编号:1004-8138(2000)01-0078-04
修稿时间:1999-09-23

Determination of CaF2 and Impurity in Flouspar by X-Ray Fluorescence
YING Xiao-Hu,LIN Zhen-Xing.Determination of CaF2 and Impurity in Flouspar by X-Ray Fluorescence[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2000,17(1):78-81.
Authors:YING Xiao-Hu  LIN Zhen-Xing
Institution:YING Xiao-Hu (Ningbo Entry-Exit Inspectio and Quarantine Administration ,No.144 Liuting Street,Ningbo, Zhejiang 315010,P.R.China) LIN Zhen-Xing (Ningbo Entry-Exit Inspectio and Quarantine Administration ,No.144 Liuting Street,Ningbo, Zhejiang 315010,P.R.China)
Abstract:
Keywords:XRF  Flouspar  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号