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ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡
引用本文:龙加洪,许雄飞,康晓宇,吴银菊,谭菊,朱奕.ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡[J].光谱实验室,2012,29(4):2208-2211.
作者姓名:龙加洪  许雄飞  康晓宇  吴银菊  谭菊  朱奕
作者单位:长沙市环境监测中心站 长沙市解放东路106号 410001
摘    要:建立了电感耦合等离子体-发射光谱法测定电路板制造废水中铜、镍和锡的方法,研究了消解方法及分析谱线的选择。该方法与国标原子吸收光谱法比较结果无显著性差异。方法应用于不同浓度电路板制造废水的测定,铜、镍和锡的方法检出限分别为0.006、0.005、0.008mg/L,加标回收率分别为91.6%—102.6%、93.0%—105.0%、92.6%—101.8%,相对标准偏差分别为0.7%—2.6%、1.5%—4.5%、1.1%—3.2%。

关 键 词:电感耦合等离子体-发射光谱法        电路板制造废水

Determination of Cu, Ni and Sn in Wastewater of Manufactory of Circuit Board by ICP-OES
LONG Jia-Hong , XU Xiong-Fei , KANG Xiao-Yu , WU Yin-Ju , TAN Ju , ZHU Yi.Determination of Cu, Ni and Sn in Wastewater of Manufactory of Circuit Board by ICP-OES[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2012,29(4):2208-2211.
Authors:LONG Jia-Hong  XU Xiong-Fei  KANG Xiao-Yu  WU Yin-Ju  TAN Ju  ZHU Yi
Institution:Long Jia-Hong Xu Xiong-Fei Kang Xiao-Yu Wu Yin-Ju Tan Ju Zhu Yi (Changsha Environmental Monitoring Centre,Changsha 410001,P.R.China)
Abstract:
Keywords:
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