| 薄层树脂相吸光光度法测定痕量钴的研究 |
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| 引用本文： | 王香,李毅,崔桂君,闫永胜,李春香,马佩领.薄层树脂相吸光光度法测定痕量钴的研究[J].光谱实验室,1999,16(5):545-547. |
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| 作者姓名： | 王香 李毅 崔桂君 闫永胜 李春香 马佩领 |
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| 作者单位： | 河南平顶山师范高等专科学校化学系,河南省平顶山市,467000 |
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| 摘 要： | 本文提出用薄层树脂相通过光度法测定前量钴的新方法。本法具有灵敏度高，选择性好、速度快等特点。钴离子（Ⅱ）与「４－（５－氯－二吡啶）偶氮」－１，３－二氨基苯生成稳定的有色配合物将其富集在Ｈ型（７３２）阳离子交换树脂上，制作成薄层直接测定，λｍａｘ＝５７１ｎｍ。本法既克服了需特制１ｍｍ比色皿的困难，又提高了测定精密度，使推广精树脂相光度法成为可能。用本法实测了天然水中痕量钴，检出限２．８μｇ·Ｌ＾－１
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| 关 键 词： | 薄层树脂相光度法 钴 痕量分析 |
| 修稿时间： | 1999-04-26 |
Determination of Trace Cobalt by Thin Layer Cation Exchange Resin Phase Spectrophotometry |
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| WANG Xiang,LI Yi,CUI Gui-Jun,YAN Yong-Sheng,LI Chun-Xiang,MA Pei-Ling.Determination of Trace Cobalt by Thin Layer Cation Exchange Resin Phase Spectrophotometry[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,1999,16(5):545-547. |
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| Authors: | WANG Xiang LI Yi CUI Gui-Jun YAN Yong-Sheng LI Chun-Xiang MA Pei-Ling |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Thin Layer Cation Exchange Resin Phase Spectrophotometry Cobalt Trace Analysis |
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