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氮化硅粉末的傅里叶变换红外光谱研究
引用本文:代建清,黄勇,谢志鹏,杨金龙.氮化硅粉末的傅里叶变换红外光谱研究[J].光谱实验室,2001,18(1):78-83.
作者姓名:代建清  黄勇  谢志鹏  杨金龙
作者单位:清华大学材料科学与工程系
基金项目:高技术 86 3计划资助! (86 3- 715 - 0 6 - 0 10 0 ),国家重点基础研究发展规划 (973)课题资助! (G2 0 0 0 0 6 72 0 4
摘    要:利用透射法和漫反射法,研究了纯氮化硅粉末和KTBr烯释后样品的红外光谱特征,比较了不同方法获得得的红外光谱的异同,实验发现,纯氮化硅粉末的曼反射光谱在约1200cm^-1处出现一尖锐的强峰,而KBr稀释样品的透光谱和温反射光谱不出现此峰,研究认为,该峰对应氮化硅颗粒表面Si-O键的振动。

关 键 词:氮化硅粉末  结构陶瓷  表面组成  结构特征
文章编号:1004-8138(2001)01-0078-06
修稿时间:2000年10月6日

FTIR Study of Si3N4 Powder
DAI Jian-qing,HUANG Yong,XIE Zhi-peng,YANG Jin-long.FTIR Study of Si3N4 Powder[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2001,18(1):78-83.
Authors:DAI Jian-qing  HUANG Yong  XIE Zhi-peng  YANG Jin-long
Abstract:The linear absorbance FTIR spectrum of Si 3N 4 powder dispersed in KBr as well as the diffuse reflectance infrared fourier transform(DRIFT)spectrum of unmixed sample,was studied.An intensive peak at about 1200cm -1 exists in the DRIFT spectrum in unmixed sample,while there is no peaks at the same wave length in the linear absorbance spectrum in Si 3N 4 powder dispersed in KBr.Results indicate that the sharp peak at 1200cm -1 is corresponding to the Si O bonding of the Si 3N 4 particle surface.
Keywords:Si  3N  4  FTIR  DRIF`  
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