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波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍
引用本文:应晓浒,张卫星,陈晓东.波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍[J].光谱实验室,2000,17(3):281-285.
作者姓名:应晓浒  张卫星  陈晓东
作者单位:1. 宁波出入境检验检疫局,浙江省宁波市柳汀街144号,315010
2. 宁波布鲁克分析仪器服务中心,浙江省宁波市柳汀街144号,315010
摘    要:介绍澳大利亚国家标准和中国国家计量检定规程中关于波长色散型 X射线荧光光谱仪的性能测试方法 ,并对 SRS34 0 0型 X射线荧光光谱仪进行了性能测试和计量检定。

关 键 词:X射线荧光光谱仪  性能测试  计量检定
修稿时间:2000-01-06

Introduction of Test and Metrical Method for X-Ray Fluorescence Spectrometer
YING Xiao-Hu,ZHANG Wei-Xing,CHEN Xiao-Dong.Introduction of Test and Metrical Method for X-Ray Fluorescence Spectrometer[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2000,17(3):281-285.
Authors:YING Xiao-Hu  ZHANG Wei-Xing  CHEN Xiao-Dong
Abstract:Australia standard of precision test methods and China metrical regulation for wavelength dispersive XRay fluorescence spectrometer were introduced in this thesis.The technical properties of SRS3400 XRay fluorescence spectrometer were tested and measured.
Keywords:XRay Fluorescence Spectrometer  Performance Test    
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