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芯片微通道沸腾相变过程中流动交变现象探析
引用本文:王浩,吴慧英,郑平.芯片微通道沸腾相变过程中流动交变现象探析[J].工程热物理学报,2006,27(Z2):61-64.
作者姓名:王浩  吴慧英  郑平
作者单位:上海交通大学机械与动力工程学院工程热物理研究所,上海,200030
基金项目:国家自然科学基金;上海市教委"曙光计划"
摘    要:亚微米芯片通道中的沸腾相变极不稳定,在某些条件下,在芯片微通道的同一位置处会出现不同相态流体的交变现象,并伴随有剧烈的热力参数波动。本文通过显微观测和高速摄影技术,对芯片微通道沸腾相变过程中不同相态流体交变现象的成因及特点进行了揭示和分析,这对认识高热流密度条件下芯片微热沉中的流动非稳定性问题具有重要意义。

关 键 词:芯片微通道  沸腾  非稳定  流动交变
文章编号:0253-231X(2006)Suppl.2-0061-04
修稿时间:2006年1月23日

STUDY ON ALTERNATING FLOW PHENOMENA DURING FLOW BOILING IN SILICON MICROCHANNELS
WANG Hao,WU Hui-Ying,CHENG Ping.STUDY ON ALTERNATING FLOW PHENOMENA DURING FLOW BOILING IN SILICON MICROCHANNELS[J].Journal of Engineering Thermophysics,2006,27(Z2):61-64.
Authors:WANG Hao  WU Hui-Ying  CHENG Ping
Abstract:
Keywords:silicon microchannels  boiling  instability  alternating flow
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