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| 精确研究光电离散射截面的新方法 | |
| 引用本文： | 马晓光,孙卫国,程延松.精确研究光电离散射截面的新方法[J].原子与分子物理学报,2004,21(Z1):143-144. |
| 作者姓名： | 马晓光 孙卫国 程延松 |
| 作者单位： | 四川大学原子分子物理研究所,成都,610065 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号10074048)和教育部基金资助项目 |
| 摘 要： | 利用单个原子精确的光电离散射截面和物质的复介电常数,并考虑一定的分子力学模型,可以对凝聚态物质中的原子光电离截面进行定量研究.孙卫国等最近提出了一套研究真实体系中原子光电离截面的新方法.本文首次应用它们来研究碱土金属钠在不同密度状态下的光电离截面,结果表明新的光电离截面公式比著名的孤立原子光电离截面公式更具有优越性. |
| 关 键 词： | 光电离 散射截面 介电常数 |
| 文章编号： | 1000-0364(2004)增刊-0143-02 |
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