首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用双原子分子离子XY+的能量自洽法研究卤化氢离子HX+(X=F,Cl,Br,I)基态的势能函数
引用本文:刘国跃,孙卫国,冯灏.用双原子分子离子XY+的能量自洽法研究卤化氢离子HX+(X=F,Cl,Br,I)基态的势能函数[J].原子与分子物理学报,2007,24(1):57-62.
作者姓名:刘国跃  孙卫国  冯灏
作者单位:1. 绵阳师范学院理论物理研究所,绵阳,621000
2. 四川大学原子与分子物理研究所,成都,610065
3. 四川大学物理科学与技术学院,成都,610065
基金项目:四川省教育厅资助项目;绵阳师范学院校科研和教改项目
摘    要:利用研究双原子分子离子XY 解析势能函数的能量自洽法(ECMI)研究了四个卤化氢离子HX (X=F,Cl,Br,I)基态X2∏的势能函数.得到的势能函数表明,ECMI势能很好与Rydberg-Klein-Rees(RKR)数据相符合,而且在离子的渐进区和离解区域,ECMI势比常用的中性分子的势能函数的Morse势和Huxley-Murrell-Sorbie(HMS)等的结果更可靠,并能得到RKR方法在渐进区和离解区可能缺乏的势能数据,并且表明将能量自洽法从中性分子XY推广到一价双原子分子离子XY 是可行的.

关 键 词:卤化氢离子HX  (X=F  Cl  Br  I)  分子离子XY  的能量自洽法  基态X2∏  势能函数
文章编号:1000-0364(2007)01-0057-06
收稿时间:2005/11/23
修稿时间:2005-11-23

The analytical potential energy function of ground state of halogen hydrogen ion HX+(X=F,Cl,Br,I) using the ionic energy consistent method (ECMI)
LIU Guo-yue,SUN Wei-guo,FENG Hao.The analytical potential energy function of ground state of halogen hydrogen ion HX+(X=F,Cl,Br,I) using the ionic energy consistent method (ECMI)[J].Journal of Atomic and Molecular Physics,2007,24(1):57-62.
Authors:LIU Guo-yue  SUN Wei-guo  FENG Hao
Abstract:The analytical potential energy functions of ground states of halogen hydrogen ions HX (X=F,Cl,Br,I) are studied using the energy consistent method for ion XY (ECMI).These obtained potential energy functions show that it may be unreasonable for the neutral diatomic molecular potential functions,such Morse potential and Huxley-Murrell-Sorbie(HMS) potential,to be directly used as the potential energy functions of the halogen hydrogen ions HX ,the new analytical potential energy functions ECMI potentials are agreement with experimental Rydberg -Klein-Rees(RKR) data.Special in asymptotic and dissociation regions,the ECMI potentials are superior to the results of neutral Morse potential and HMS potential,and in the areas,it is difficult for the potential energy data to be obtained from RKR approach.
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《原子与分子物理学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《原子与分子物理学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号