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碳离子的光谱和能级寿命的测定
引用本文:杨治虎,苏弘.碳离子的光谱和能级寿命的测定[J].原子与分子物理学报,1997,14(1):29-32.
作者姓名:杨治虎  苏弘
作者单位:中国科学院近代物理研究所
摘    要:利用束箔技术研究能量为110keV的C+离子与厚度为8.5μg/cm2的碳箔相互作用激发放出的辐射光,这些光经鉴定主要来自CⅠ-CⅢ离子的激发辐射光。测量顺着箔后的激发辐射光的衰变曲线,得到几条较强谱线的能级寿命

关 键 词:束箔光谱  能级寿命

SPECTROSCOPY AND LIFETIME MEASUREMENTS OF C
$$$$ Yang Zhihu Su Hong Liu Huiping Wang Youde Ma Xinwen Institute of Mordern Physics,Academia Sinica Lanzhou.SPECTROSCOPY AND LIFETIME MEASUREMENTS OF C[J].Journal of Atomic and Molecular Physics,1997,14(1):29-32.
Authors:$$$$ Yang Zhihu Su Hong Liu Huiping Wang Youde Ma Xinwen Institute of Mordern Physics  Academia Sinica Lanzhou
Institution:$$$$ Yang Zhihu Su Hong Liu Huiping Wang Youde Ma Xinwen Institute of Mordern Physics,Academia Sinica Lanzhou 730000
Abstract:
Keywords:Spectroscopy  Lifetime  
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