| 拓扑缺陷对Armchair型小管径多壁碳纳米管输运性质的影响 |
| |
| 引用本文： | 赵世奇,吴建宝,林琦,何智强,卢良志.拓扑缺陷对Armchair型小管径多壁碳纳米管输运性质的影响[J].原子与分子物理学报,2015(3):414-420. |
| |
| 作者姓名： | 赵世奇 吴建宝 林琦 何智强 卢良志 |
| |
| 作者单位： | 上海工程技术大学基础教学学院 |
| |
| 基金项目： | 2013年国家级大学生创新创业训练计划项目(201310856033);2012年上海市大学生创新活动项目(cs1221001);2011年上海工程技术大学校基金(2011Q21) |
| |
| 摘 要： | 采用密度泛函理论和非平衡格林函数方法研究了纯净的及带有不同数目的 Stone-Wale拓扑缺陷下的扶手椅型单壁,双壁和三壁小管径碳纳米管的能带结构和电子输运性质,通过计算并分析不同偏压下的微分电导和非弹性电子隧穿谱(IETS),计算结果表明单壁,双壁和三壁碳纳米管的特征偏压区间分别为-1.0 V,1.0 V],-0.5 V,0.5 V]和-0.25 V,0.25 V],特征偏压区间内SW拓扑缺陷所产生的电导波动平缓,而特征偏压区间外因缺陷的数目变化所带来的电导波动显著,通过IETS谱线的分析得到单壁,双壁和三壁碳纳米管的特征峰偏压分别为±1.25 V,±0.625 V和±0.125 V.碳纳米管的特征偏压区间和IETS特征峰偏压可为较小管径碳纳米管单壁,双壁和多壁类型的区分提供一种新的途径,同时也为小管径多壁碳纳米管的输运性质在出现拓扑缺陷时的响应提供参考依据.
|
| 关 键 词： | 拓扑缺陷 多壁碳纳米管 微分电导 非弹性电子隧穿谱 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《原子与分子物理学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《原子与分子物理学报》下载免费的PDF全文 |
|
