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Paul阱中囚禁的低能Ar2+离子与Ar的电荷转移
引用本文:李俊,陈亮,李交美,高克林.Paul阱中囚禁的低能Ar2+离子与Ar的电荷转移[J].原子与分子物理学报,2007,24(3):471-476.
作者姓名:李俊  陈亮  李交美  高克林
作者单位:1. 中国科学院武汉物理与数学研究所波谱与离子分子物理国家重点实验室,武汉,430071;中国科学院研究生院,北京,100049
2. 中国科学院武汉物理与数学研究所波谱与离子分子物理国家重点实验室,武汉,430071
摘    要:在Paul阱中产生并选择囚禁了单一的Ar2 离子,得到低能Ar2 与Ar的电荷转移速率系数为5.84(0.677)×10-10cm3·s-1及其零氩气压强下的离子衰减速率为0.46 s-1,为下一步进行多电荷离子的亚稳态寿命研究提供了有价值的实验参考数据.

关 键 词:Paull离子阱  选择囚禁  低能多电荷离子  电荷转移  衰减速率
文章编号:1000-0364(2007)03-0471-06
收稿时间:2006/5/22
修稿时间:2006-05-22

Charge transfer between trapped low-energy Ar2+ and Ar in a Paul trap
LI Jun,CHEN Liang,LI Jiao-mei,GAO Ke-lin.Charge transfer between trapped low-energy Ar2+ and Ar in a Paul trap[J].Journal of Atomic and Molecular Physics,2007,24(3):471-476.
Authors:LI Jun  CHEN Liang  LI Jiao-mei  GAO Ke-lin
Institution:1. State Key Laboratory of Magnetic Resonance and Atomic and Molecular Physics,Wuhan Institute of Physics and Mathematics, Chinese Academy of Sciences, Wuhan 430071 ,China; 2. Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039,China
Abstract:
Keywords:Paul ion trap  selectively trap  multiply-charged ions  charge transfer  decay rate
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