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Thickness dependence of piezoelectric property of ultrathin BiFeO
3
films
Authors:
JL Zhao
HX LuJR Sun
BG Shen
Institution:
Beijing National Laboratory for Condensed Matter Physics and the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190, P.R. China
Abstract:
Keywords:
BiFeO
3
film
Thickness
Piezoelectric property
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