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红外光学材料折射率均匀性的测量不确定度评定
引用本文:梁菲,麦绿波,周桃庚,王雷,沙定国.红外光学材料折射率均匀性的测量不确定度评定[J].应用光学,2015,36(1):82.
作者姓名:梁菲  麦绿波  周桃庚  王雷  沙定国
作者单位:1. 北京理工大学光电学院,精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室,北京100081
2. 中国兵器工业标准化研究所,北京,100089
3. 西安应用光学研究所,西安,710065
摘    要:基于多样品多型号仪器的测试信息及其GUM和MCM方法, 讨论了四步干涉法测量红外光学材料折射率均匀性的测量范围及其测量不确定度评定。红外干涉测量的绝对灵敏度和准确度虽不及可见激光干涉仪, 但采用了四步干涉测量的方法, 消除了干涉仪的固有系统误差, 有利于实现对红外光学材料折射率均匀性的高准确度测量。实际测试表明, 该测量范围覆盖1×10-5~5×10-3, 测量相对标准不确定度为2×10-1~2×10-2。

关 键 词:GUM  MCM  四步干涉法  红外光学材料均匀性
收稿时间:2014/10/31

Uncertainty evaluation in infrared optical material refractive index homogenei ty measurement
Liang Fei,Mai Lyubo,Zhou Taogeng,Wang Lei,Sha Dingguo.Uncertainty evaluation in infrared optical material refractive index homogenei ty measurement[J].Journal of Applied Optics,2015,36(1):82.
Authors:Liang Fei  Mai Lyubo  Zhou Taogeng  Wang Lei  Sha Dingguo
Abstract:
Keywords:GUM  MCM  four-step interferometry  uniformity of infrared optic materials
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