| 高温超导储能磁体导冷片涡流损耗分析 |
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| 引用本文： | 耿国丽,方进,杨艳芳,陈铮,张宏杰,赵鑫.高温超导储能磁体导冷片涡流损耗分析[J].低温与超导,2018(2). |
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| 作者姓名： | 耿国丽 方进 杨艳芳 陈铮 张宏杰 赵鑫 |
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| 作者单位： | 北京交通大学电气工程学院;中国电力科学研究院储能与电工新技术研究所; |
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| 摘 要： | 高温超导储能(High Temperature Superconducting Magnetic Energy Storage,HTS-SMES)磁体装置可有效提高电力系统的稳定性、改善电能质量。储能磁体是储能装置的关键部分,为提高超导储能磁体的热稳定性,通常在超导磁体中增设铜导冷片。磁体充放电时在导冷片上会产生涡流损耗,损耗的大小严重影响磁体的超导特性,因此降低导冷结构的涡流损耗是提高磁体热稳定性的关键因素。运用有限元法(FEM)分析导冷片上的涡流损耗,在Ansoft仿真软件三维瞬态场中模拟磁体充电过程中导冷片的涡流损耗,结果表明:充电模式下,完整导冷片涡流损耗为1.45W;沿径向开缺口处理后涡流损耗为0.107W;导冷片内环、中部、外环开齿槽后涡流损耗分别为0.49、0.41、0.1242W。由此可得,对于导冷片的开齿槽处理可显著降低涡流损耗,且内部开齿槽的效果最佳。
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| 关 键 词： | 高温超导储能磁体 涡流损耗 导冷片 有限元 |
Analysis of eddy current loss of HTS-SMES conduction-cooled plate |
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