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| 用XRD和ACS测量研究Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体的应力钉扎机制 | |
| 引用本文： | 崔利杰,段瑞飞,李阳,曹国辉,马庆珠,董成,赵忠贤,魏龙.用XRD和ACS测量研究Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体的应力钉扎机制[J].低温物理学报,2001,23(2):81-88. |
| 作者姓名： | 崔利杰 段瑞飞 李阳 曹国辉 马庆珠 董成 赵忠贤 魏龙 |
| 作者单位： | 1. 北京科技大学材料物理系,中国科学院半导体所新材料部, 2. 北京科技大学材料物理系,中国科学院高能物理所，中国科学院物理所 3. 北京科技大学材料物理系, 4. 中国科学院高能物理所 5. 中国科学院物理所 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
| 摘 要： | 利用X射线衍射（XRD）和交流磁化率（ACχ）方法系统地研究了Y1x-EuxBa2Cu3O7-δ（x=0.0-1.0）超导体，研究发现Eu 掺杂替代了Y晶位后引起晶格失想与电流密度有密切的联系，对于不同掺杂成分样品，X射线衍射线分析表明（006）及（007）衍射峰型随掺杂量变化，杂浓度在30％和70％附近时，半高宽（FWHM)再现极大值，表明此时样品的晶格失配最大，与此相对应，电流密度Js也在此掺杂浓度范围内达到极大值，我们在晶格失配应力场的钉钆模型下对实现现象进行了讨论，认为Y1-xEuxBa2Cu3O7-δ超导体中由元素替代引起的晶格失配应力场是有效的钉扎中心。 |
| 关 键 词： | X射线衍射 XRD 交流磁化率 ACS 临界电流密度 Y1－xEuxbA2Cu3O7－δ超导体 应力钉扎 晶格失配 |
| 修稿时间： | 2000年10月2日 |
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