首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

(La0.6Nd0.4)0.7Sr0.3MnO3薄膜的厚度依赖的结构与输运性
引用本文:金绍维,LI Jin-guang,李金光,单会会,吴文彬,周先意.(La0.6Nd0.4)0.7Sr0.3MnO3薄膜的厚度依赖的结构与输运性[J].低温物理学报,2008,30(2):120-124.
作者姓名:金绍维  LI Jin-guang  李金光  单会会  吴文彬  周先意
作者单位:1. 安徽大学物理与材料科学学院,合肥,230039;中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室,合肥,230026
2. 安徽大学物理与材料科学学院,合肥,230039
3. 中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室,合肥,230026
基金项目:国家自然科学基金(项目编号:50421201),安徽省自然科学基金(项目编号:KJ20078031)资助的课题.
摘    要:厚度为6~100 nm的(La0.6Nd0.4)0.7,Sr0.3MnO3(LNSMO)薄膜是由脉冲激光沉积生长在SrTiO3STO(001)]衬底上.X-射线衍射(XRD)线扫描、ω-摇摆曲线和倒空间衍射显示,随着膜厚(t)的变化,薄膜的结构经历了由完全应变到部分弛豫的变化.电阻测量显示存在两个不同的厚度依赖的金属-绝缘体转变温度(Tp),对于应变的薄膜(t≤17 nm),Tp敏感地依赖于双轴应变和膜厚;而对较厚的薄膜(t≥35nm),Tp对于膜厚是较小敏感的.这个厚度依 赖的输运性的变化可被解释为菱形LNSMO的角度畸变诱导的应变和弛豫.我们的结果表明金属-绝缘体转变温度和相分离都受薄膜的应变态控制.

关 键 词:外延薄膜  晶格失配应变  金属-绝缘体转变
修稿时间:2007年12月20

THE THICKNESS-DEPENDENT STRUCTURAL AND TRANSPORT PROPERTIES OF EPITAXIAL (La0.6 Nd0.4)0.7 Sr0.3 MnO3 FILMS
LI Jin-guang.THE THICKNESS-DEPENDENT STRUCTURAL AND TRANSPORT PROPERTIES OF EPITAXIAL (La0.6 Nd0.4)0.7 Sr0.3 MnO3 FILMS[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2008,30(2):120-124.
Authors:LI Jin-guang
Abstract:
Keywords:Epitaxial thin-film  lattice mismatch strain  metal-insulator transition
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号