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稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率
引用本文:唐根初,于云,李莹,曹韫真.稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率[J].低温物理学报,2008,30(3).
作者姓名:唐根初  于云  李莹  曹韫真
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050
摘    要:通过合理设计,组装了一台稳态卡计法热辐射测量仪,它可以测量材料在173~373 K温度范围内的半球热辐,射率.本文对该装置进行了详细介绍和误差分析,并报道了多种卫星温度控制用热辐射材料和一种新型热致变色材料(thermochromic material)的半球总发射率测量结果.

关 键 词:发射率  稳态卡计法  涂层

STEADY-STATE CALORIMETIUC METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE DEPENDENCE OF TOTAL HEMISPHERICAL EMITTANCE
TANG Gen-chu,YU Yun,LI Ying,CAO Wen-zhen.STEADY-STATE CALORIMETIUC METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE DEPENDENCE OF TOTAL HEMISPHERICAL EMITTANCE[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2008,30(3).
Authors:TANG Gen-chu  YU Yun  LI Ying  CAO Wen-zhen
Abstract:
Keywords:
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