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微波与热偏置下超导HEB太赫兹直接检测器的性能比较
引用本文:张一頔,苏润丰,陈健,吴培亨.微波与热偏置下超导HEB太赫兹直接检测器的性能比较[J].低温物理学报,2019,41(2):123-128.
作者姓名:张一頔  苏润丰  陈健  吴培亨
作者单位:南京大学超导电子学研究所,江苏南京,210023;南京大学超导电子学研究所,江苏南京,210023;南京大学超导电子学研究所,江苏南京,210023;南京大学超导电子学研究所,江苏南京,210023
基金项目:国家自然科学基金;中央高校基本科研业务费专项资金资助;江苏省电磁波先进调控技术重点实验室资助的课题
摘    要:本文介绍了一种基于超导氮化铌(NbN)热电子测辐射热计(HEB)的太赫兹(THz)直接检测器,并利用直流读出法和微波反射读出法,对微波与热偏置下HEB直接检测器的性能进行了比较.通过直流读出法,在最佳工作点处,测得微波偏置与热偏置条件下检测器的电流响应率分别为244A/W和20A/W,光学噪声等效功率(NEP)分别为4.5pW/√Hz和6.8pW/√Hz.相比于热偏置,微波偏置能够大大提高检测器的响应率.此外,我们利用微波反射读出法对微波偏置和热偏置下检测器的性能进行了比较.两种读出方式均可很好的表征检测器的性能,而相比于直流读出法,微波反射读出法更易于扩展到多像素阵列,同时具有很快的读出速度,对快速THz脉冲信号的检测具有重要意义.

关 键 词:太赫兹  超导热电子测辐射热计  噪声等效功率  热偏置  微波偏置

Superconducting HEB Terahertz Direct Detector with Microwave and Thermal Biasing
ZHANG Yidi,SU Runfeng,CHEN Jian and WU Peiheng.Superconducting HEB Terahertz Direct Detector with Microwave and Thermal Biasing[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2019,41(2):123-128.
Authors:ZHANG Yidi  SU Runfeng  CHEN Jian and WU Peiheng
Institution:Research Institute of Superconducting Electronics ,Nanjing University ,Nanjing ,210023,Research Institute of Superconducting Electronics ,Nanjing University ,Nanjing ,210023,Research Institute of Superconducting Electronics ,Nanjing University ,Nanjing ,210023 and Research Institute of Superconducting Electronics ,Nanjing University ,Nanjing ,210023
Abstract:
Keywords:terahertz (THz)  superconducting hot electron bolometer  noise equivalent power  microwave biasing  thermal biasing
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