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Bi系高温超导带材交流传输损耗的研究和分析
引用本文:方进,罗霄鸣,方家光,陈笃行,韩征和.Bi系高温超导带材交流传输损耗的研究和分析[J].低温物理学报,2003,25(Z1):29-34.
作者姓名:方进  罗霄鸣  方家光  陈笃行  韩征和
作者单位:应用超导研究中心,清华大学,北京,100084
摘    要:本文研究了Bi-2223高温超导带材的交流传输损耗和频率及运行电流的关系, 调查了热循环过程对交流传输损耗的影响. 实验中, 使用了Lock-in 放大器, 利用四引线法来测量带材交流传输损耗. 实验在温度为77K频率从45Hz到135Hz下进行. 在调查损耗和频率及运行电流的关系时, 发现在运行电流幅值小于临界电流时, 每周传输损耗和频率无关, 说明这时的损耗主要来源于磁滞损耗, 实验结果和Norris椭圆模型的计算结果很接近. 在研究交流传输损耗和热循环的关系时, 发现随着冷热循环次数的增加, 交流损耗也在增加. 这种损耗的增加来源于冷热循环过程中产生的应力, 这种应力的释放减弱了晶粒间的Josephson连接, 使临界电流下降, 从而造成了交流传输损耗的增加.

关 键 词:Bi系高温超导带材  交流传输损耗  自场  临界电流

RESEARCH AND ANALYSIS OF AC TRANSPORT LOSS OF Bi-2223 TAPE
Abstract:
Keywords:
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