| CaIrO3薄膜中的八面体扭转及金属绝缘转变 |
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| 引用本文： | 韩雨,郭状,吴文彬.CaIrO3薄膜中的八面体扭转及金属绝缘转变[J].低温物理学报,2018(1):6-11. |
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| 作者姓名： | 韩雨 郭状 吴文彬 |
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| 作者单位： | 合肥微尺度物质科学国家研究中心中国科学技术大学 |
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| 摘 要： | 本文采用激光脉冲沉积(pulsed laser deposition,PLD)方法在NdGaO3(110)(NGO)和(LaAlO_3)_(0.3)(Sr_2AlTaO_6)_(0.7)(001)(LSAT)衬底上生长了厚度变化的钙钛矿结构CaIrO3(CIO)单晶薄膜.在这一体系中,我们观测到了金属绝缘转变现象以及各向异性电输运行为,并且尝试利用应变弛豫调节铱氧八面体绕100]轴的扭转角度,改变金属绝缘转变温度(TMI).八面体的扭转角度在30nm厚的样品中取得了最大值,同时CIO的TMI取得了最小值.我们推测是八面体的扭转影响了CIO薄膜的带隙宽度,从而造成了TMI的变化以及各向异性电输运行为.
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| 关 键 词： | 5d电子金属氧化物薄膜 金属绝缘转变 八面体扭转 |
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