Y-123相超导体Cu位掺Sn的XPS研究 |
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引用本文: | 李旗,潘海斌,祝传刚,徐彭寿,张新夷.Y-123相超导体Cu位掺Sn的XPS研究[J].低温物理学报,1998,20(1):28-33. |
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作者姓名: | 李旗 潘海斌 祝传刚 徐彭寿 张新夷 |
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作者单位: | 中国科学技术大学国家同步辐射实验室 |
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摘 要: | 本文利用X射线光电子能谱实验技术(XPS)研究了Y-123相Cu位掺Sn超导体的电子结构.实验发现在掺杂量较小时,样品的芯能级谱都变化很小,特别是Cu2p3/2谱,其卫星峰与主峰的强度比Is/Im还略有升高;但当掺杂量较大时,芯能级谱的变化方向与掺杂浓度较低时相反,Cu2p3/2谱的Is/Im出现了明显下降.电子结构上的这种变化与Sn掺杂对超导转变温度的影响相一致.实验结果表明高价态的Cu确实有益于超导,杂质Sn主要占据在Cu-O链上Cu的格位上.
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关 键 词: | XPS 铜位 掺杂 锡 电子结构 YBCO 超导体 Tc |
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