超导双面膜Tc与Jc的无损测量系统 |
| |
引用本文: | 李顺洲,孙永伟,何艾生,董世迎,王小平,何豫生.超导双面膜Tc与Jc的无损测量系统[J].低温物理学报,2002,24(2):133-136. |
| |
作者姓名: | 李顺洲 孙永伟 何艾生 董世迎 王小平 何豫生 |
| |
作者单位: | 1. 中国科学院物理所,北京,100080中国科学院声学所,北京,100080 2. 中国科学院物理所,北京,100080 3. 中国科学院物理所,北京,100080北方工业大学,北京,100041 4. 北京有色金属研究总院,北京,100088 |
| |
摘 要: | 利用高温超导体磁屏蔽原理研制了一种双面超导薄膜的临界参数无损测量系统。该系统有29个传感器,可以无损地测出双面薄膜中的任一面的临界参数(Tc、Jc)值。该系统用液氮冷却。可测量最大薄膜直径为75mm。全系统由计算机实现自动控制。
|
关 键 词: | 超导双面膜 Tc Jc 无损测量系统 高温超导体 临界参数 超导磁屏蔽 超导微波器件 |
修稿时间: | 2001年10月11 |
NON-DESTRUCTIVE DETERMINATIONSYSTEM OF CRITICAL PARAMETERSOF DOUBLE-SIDED HTSC THIN FILMS |
| |
Abstract: | |
| |
Keywords: | |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|