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MgB2超导体的正电子湮没研究
引用本文:葛永霞,常方高,李涛,路庆凤,李喜贵.MgB2超导体的正电子湮没研究[J].低温物理学报,2005,27(2):908-913.
作者姓名:葛永霞  常方高  李涛  路庆凤  李喜贵
作者单位:河南师范大学物理与信息工程学院,新乡453007
摘    要:本文利用正电子湮没技术(PAT)对不同密度的MgB2样品分别进行了测定,结果发现正电子在MgB2中自由态的湮没时间(本征寿命τ1)和在捕获态的湮没时间(缺陷寿命τ2)比其他高温超导体都明显要高,这反映了MgB2的体电子浓度相对于其它超导体要低,可能归因于MgB2超导材料本身的晶体结构和化学组成,MgB2超导材料的正电子寿命不仅与晶体的结构缺陷,而且与样品的密度或孔隙度有关.

关 键 词:MgB2超导体  正电子湮没  结构缺陷
收稿时间:03 27 2005 12:00AM

THE POSITRON ANNIHILATION RESEARCH OF THEMgB2 SUPERCONDUCTOR
GE YONG-XIA,CHANG FANG-GAO,LI TAO,LU QING-FENG,LI XI-GUI.THE POSITRON ANNIHILATION RESEARCH OF THEMgB2 SUPERCONDUCTOR[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2005,27(2):908-913.
Authors:GE YONG-XIA  CHANG FANG-GAO  LI TAO  LU QING-FENG  LI XI-GUI
Institution:College of Physics and Information Engineering, Henan Nomal University, Xinxiang 453007
Abstract:
Keywords:MgB2 Superconductor  Positron Annihilation  The construct defect
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