| 临界电流测量中的影响因素的研究 |
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| 引用本文： | 张月蘅,徐政,罗虹,丁旗,任聪,吴希凡,邱里,林风勇,丁世英.临界电流测量中的影响因素的研究[J].低温物理学报,2000,22(4):253-261. |
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| 作者姓名： | 张月蘅 徐政 罗虹 丁旗 任聪 吴希凡 邱里 林风勇 丁世英 |
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| 作者单位： | 1. 同济大学材料科学与工程学院,上海,200092
2. 南京大学物理系,国家固体微结构物理实验室,南京,210093 |
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| 基金项目： | 国家超导研究发展中心!（课题号95－预－06．9705） |
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| 摘 要： | 我们采用直流四引线法对银包套的Ｂｉ２－ｘＰｂｘＳｒ２Ｃａ２Ｃｕ３Ｏｙ，（Ａｇ－Ｂｉ２２２３）带材进行了临界电流的测量研究了外加磁场和电流扫描速度对临界电流的影响结果表明，电流扫描速度和磁场增加使临界电流减小，并且磁场增加使Ｖ－Ｉ曲线对加电流速度的敏感程度发生变化利用电动力学方程和磁通玻璃态蠕动机制对实验结果进行了解释，将磁场、温度、磁通钉扎强度对约化临界电流的影响归结成单一的临界电流参数ｎ的影响，和实验结果符合得比较满意．１引言 临界电流密度Ｊｃ是表征技术应用超导材料性能的主要参量之一，也是表征…
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| 关 键 词： | 临界电流 测量 超导材料 直流四引线法 |
STUDY ON THE FACTORS INFLUENCING THE CRITICAL CURRENT MEASUREMENT |
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| Y.H. Zhang,Z. Xu,H. Luo,Q.Ding,C.Reng,X.F.Wu,L.Qiu,F.Y. Lin,S.Y. Ding.STUDY ON THE FACTORS INFLUENCING THE CRITICAL CURRENT MEASUREMENT[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2000,22(4):253-261. |
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| Authors: | YH Zhang Z Xu H Luo QDing CReng XFWu LQiu FY Lin SY Ding |
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