| 超薄超导YBa2Cu3O7薄膜的外延生长和电阻温度关系 |
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| 引用本文： | 连贵君,王志海.超薄超导YBa2Cu3O7薄膜的外延生长和电阻温度关系[J].低温物理学报,1998,20(1):41-44. |
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| 作者姓名： | 连贵君 王志海 |
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| 作者单位： | 北京大学物理系和介观物理国家实验室 |
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| 摘 要： | 利用紫外脉冲激光源淀积生长氧化物薄膜的技术，我们在ＳｉＴｉＯ３衬底上成功地外延生长了超薄超导ＹＢａ０．２Ｃｕ３Ｏ７薄膜样品．样品ＹＢａ０．２Ｃｕ３Ｏ７层厚度分别为２．４ｎｍ至１０．８ｎｍ（二至九个原胞）．四端引线电阻法测量了样品的电阻温度关系和超导转变．超导零电阻温度分别为１６Ｋ至８１Ｋ．超薄超导薄膜样品显示当ＹＢａ０．２Ｃｕ３Ｏ７层厚度达到和超过四个原胞层厚（９．６ｎｍ）时，厚度变化对样品超导零电阻转变的影响并不十分明显．实验观察到ＹＢａ０．２Ｃｕ３Ｏ７层厚度对样品超导零电阻温度和超导起始转变影响不同．这说明样品中的缺陷对样品性能有着不容忽视的影响．超薄ＹＢａ０．２Ｃｕ３Ｏ７超导薄膜样品的成功制备为进一步的研究提供了有利条件．
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| 关 键 词： | 外延生长 电阻温度关系 YBCO 超导体 薄膜 |
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