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| 高分辨显微镜纳米云纹方法的发展与应用 | |
| 引用本文： | 刘战伟,李建国,李渴忻,谢惠民,方岱宁,廖力.高分辨显微镜纳米云纹方法的发展与应用[J].光学技术,2008,34(2):294-297. |
| 作者姓名： | 刘战伟 李建国 李渴忻 谢惠民 方岱宁 廖力 |
| 作者单位： | 1. 北京理工大学,理学院力学系,北京,100081;清华大学,工程力学系破坏力学重点实验室,北京,100084 2. 山东王晁煤电集团新宏煤业有限公司,山东,枣庄,277400 3. 北京理工大学,理学院力学系,北京,100081 4. 清华大学,工程力学系破坏力学重点实验室,北京,100084 |
| 摘 要： | 介绍了近年来发展的纳米云纹法及其新的应用。这些方法是基于原子力显微镜、扫描隧道显微镜和透射电子显微镜的原理提出来的。纳米云纹法能够对物体的微/纳观变形提供定量的分析。详述了这些方法的测量原理和实验技术,并进行了新的应用研究。实验结果论证了这些方法的可行性,并证实了这些方法具有纳米级的位移测量灵敏度。 |
| 关 键 词： | 高分辨率显微镜 纳米云纹 纳米测量 晶格 |
| 文章编号： | 1002-1582(2008)02-0294-04 |
| 修稿时间： | 2007年3月5日 |
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