基于弹光调制的双折射测试系统数据处理研究

干涉法和补偿法等双折射测量方法需要转动待测样品或偏振元件，操作不便、测量速度慢、精度有限。提出了一种双弹光调制与上位机组成的双折射系统。由弹光调制来产生调制信号，加载待测样品信息，调制信号采集至上位机中进行数据处理，进一步完成延迟量和快轴方位角求解。对测试方案原理进行分析，重点进行了系统数据处理的上位机设计与实现，完成了软硬件系统搭建。采用1/4波片进行了实验测试，实验结果表明延迟量测量相对误差为2%,快轴方位角测量相对误差为0.4%,延迟量和快轴方位角的标准差分别为0.056nm和0.022°。