| 使用子孔径拼接法检测大口径光学元件 |
| |
| 引用本文： | 张蓉竹,杨春林,许乔,蔡邦维.使用子孔径拼接法检测大口径光学元件[J].光学技术,2001,27(6):516-517. |
| |
| 作者姓名： | 张蓉竹 杨春林 许乔 蔡邦维 |
| |
| 作者单位： | 1. 四川大学,光电系,成都精密光学工程研究中心,
2. 四川大学,光电系, |
| |
| 摘 要： | 为了解决大口径光学元件检测过程中成本高、空间分辨率低这两个主要难点 ,提出了使用小口径、高精度干涉仪分次检测大口径元件 ,然后通过优化算法将检测结果进行拼接处理 ,最终得到原大口径元件波前信息的方法 ,并作了初步的拼接模拟实验 ,确认了这一方案的可行性。
|
| 关 键 词： | 大口径光学元件 子孔径拼接 最小二乘法 |
| 文章编号： | 1002-1582(2001)06-0516-02 |
| 修稿时间： | 2001年5月9日 |
Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer |
| |
| ZHANG Rong-zhu ,YANG Chun-lin ,XU Qiao ,CAI Bang-wei.Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer[J].Optical Technique,2001,27(6):516-517. |
| |
| Authors: | ZHANG Rong-zhu YANG Chun-lin XU Qiao CAI Bang-wei |
| |
| Institution: | ZHANG Rong-zhu 1,2,YANG Chun-lin 2,XU Qiao 2,CAI Bang-wei 1 |
| |
| Abstract: | This paper describes a new method to solve the two main difficulties, which are high cost and low resolving power, in the large aperture optical testing process. Using a small aperture and high precision interferometer, which is called the sub-aperture, to recover the large optical component's phase information. The principle and the optimizing way of the stitching interferometer are introduced and several simulation experiments have been done to affirm the feasibility of this test scheme. |
| |
| Keywords: | large aperture optical components stitching interferometer optimizing way |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
