首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

慢正电子束技术的应用与发展
引用本文:韩荣典,叶邦角,翁惠民,周先意,范扬眉,杜江峰.慢正电子束技术的应用与发展[J].物理学进展,1999,19(3):305-330.
作者姓名:韩荣典  叶邦角  翁惠民  周先意  范扬眉  杜江峰
作者单位:1. 中国科学技术大学,近代物理系,合肥,230026
2. 中国科学技术大学,近代物理系,合肥,230026;中国科学院 国际材料物理中心,沈阳,110015
基金项目:国家自然科学基金,中国科学院院长基金,留学回国基金
摘    要:本文介绍了慢正电子束技术和最新发展,慢正电子束作为探针的基本特性,以及在多种学科中的应用等。

关 键 词:慢正电子束  表面  缺陷  寿命  S参数  界面
修稿时间:1999-06-14

APPLICATION AND DEVELOPMENT OF SLOW POSITRON TECHNIQUE
Han Rongdian,Ye Bangjiao,Weng Huimin,Zhou Xianyi,Fan Yangmei,Du Jiangfeng.APPLICATION AND DEVELOPMENT OF SLOW POSITRON TECHNIQUE[J].Progress In Physics,1999,19(3):305-330.
Authors:Han Rongdian  Ye Bangjiao  Weng Huimin  Zhou Xianyi  Fan Yangmei  Du Jiangfeng
Abstract:A slow positron technique and its development have been described in the paper. The basic characteristics of the slow positron technique and its applications in various subjects have been discussed in detail.
Keywords:Slow positron beam  Surface  Defect  Lifetime  Sparameter  Interface  
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号