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| 研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 | |
| 引用本文： | 刘红超,郭常霖.研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法[J].物理学进展,1996,16(2):228-250. |
| 作者姓名： | 刘红超 郭常霖 |
| 作者单位： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 摘 要： | Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了Ｘ射线粉末衍射全谱图拟合的Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的基本原理，综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念 |
| 关 键 词： | 晶体 固体微结构 X射线 粉末衍射全谱图 |
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