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C(膜)/Si(SiO2)(纳米微粒)/C(膜)热处理的形态及结构分析
引用本文:邱晓燕,李建,赵保刚,刘存业,王跃,刘晓东,林跃强.C(膜)/Si(SiO2)(纳米微粒)/C(膜)热处理的形态及结构分析[J].化学物理学报,2001,14(4):439-444.
作者姓名:邱晓燕  李建  赵保刚  刘存业  王跃  刘晓东  林跃强
作者单位:西南师范大学物理系,重庆400715
基金项目:国家教育部高校骨干教师资助项目、重庆市科委基金项目.
摘    要:用直流辉光溅射+真空镀膜法制备了一种新型结构的硅基纳米发光材料-C(膜)/Si(SiO2)(纳米微粒)/C(膜)夹层膜,并对其进行了退火处理,用TEM,SEM,XRD和XPS对其进行了形态结构分析,TEM观察表明:Si(SiO2)纳米微粒基本呈球形,粒径在30nm左右,SEM观察表明:夹层膜样品总厚度约为50um ,膜表面比较平整,致密,400度退火后,样品表面变得凹凸不平,出现孔状结构;650度退火后,样品表面最平整,致密且颗粒均匀,XRD分析表明:制备出的夹层膜主要由SiO2和Si 组成,在C原子的还原作用和氧气的化作用的共同作用下,SiO2和Si含量随加热温度的升高而呈现交替变化;400度时,C的还原作用占主导地位,SiO2几乎全部被还原成了Si,此时Si含量最高;400-650度时,氧化作用占主导地位,Si又被氧化成SiO2,Si 含量降低,SiO含量逐渐上升,在650度达到最高,XS分析表明:在加热过程中,C原子逐渐扩散进入Si(SiO2)_微粒层,在650度与Si反应生成了新的SiC。

关 键 词:碳膜  纳米微粒  夹层膜  碳/硅/碳  热处理  硅基纳米发光材料  形态  结构
收稿时间:1/4/2001 12:00:00 AM

The Configuration of Annealed C(Film)/Si (SiO2)(Nanometer Particles)/C(Film)
Qiu Xiaoyan,Li Jian,Zhao Baogang,Liu Cunye,Wang Yao,Liu Xiaodong and Lin Yaoqiang.The Configuration of Annealed C(Film)/Si (SiO2)(Nanometer Particles)/C(Film)[J].Chinese Journal of Chemical Physics,2001,14(4):439-444.
Authors:Qiu Xiaoyan  Li Jian  Zhao Baogang  Liu Cunye  Wang Yao  Liu Xiaodong and Lin Yaoqiang
Abstract:
Keywords:Carbon film  Si(SiO2) particle  C(F)/Si (SiO2)(N)/C(F)
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