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Ag在CeO2-x(111)薄膜上的生长与电子结构
引用本文:孔丹丹,潘永和,王国栋,潘海斌,朱俊发.Ag在CeO2-x(111)薄膜上的生长与电子结构[J].化学物理学报,2012,25(6):713-718.
作者姓名:孔丹丹  潘永和  王国栋  潘海斌  朱俊发
作者单位:中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥230029;中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥230029;中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥230029;中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥230029;中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥230029
基金项目:This work was supported by the National Natural Science Foundation of China (No.20873128), the “Hun-dred Talents Program” of the Chinese Academy of Sci-ences, the Specialized Research Fund for the Doctoral Program of Higher Education (SRFDP) of Ministry of Education (No.200803580012), and the National Basic Research Program of China (2010CB923302).
摘    要:利用XPS和RPES技术研究了CeO2-x(111)薄膜表面上的氧空位对Ag纳米颗粒的生长和电子结构的影响. XPS结果表明,室温下,Ag纳米颗粒在部分还原的CeO2-x(111)薄膜上呈三维岛状生长, 并且岛密度比完全氧化的CeO2(111)薄膜表面上的大, 说明氧空位可以作为Ag纳米粒子生长的中心. Ag3d5/2芯能级的结合能随着Ag颗粒尺寸的减小而增大, 主要来源于终态效应的贡献. Ag和CeO2-x

关 键 词:银,二氧化铈薄膜,生长模式,X射线光电子能谱,共振光电子能谱
收稿时间:2012/9/28 0:00:00

Growth and Electronic Properties of Ag Nanoparticles on Reduced CeO2-x(111) Films
Dan-dan Kong,Yong-he Pan,Guo-dong Wang,Hai-bin Pan and Jun-fa Zhu.Growth and Electronic Properties of Ag Nanoparticles on Reduced CeO2-x(111) Films[J].Chinese Journal of Chemical Physics,2012,25(6):713-718.
Authors:Dan-dan Kong  Yong-he Pan  Guo-dong Wang  Hai-bin Pan and Jun-fa Zhu
Institution:National Synchrotron Radiation Laboratory, University of Science and Technology of China, Hefei 230029, China;National Synchrotron Radiation Laboratory, University of Science and Technology of China, Hefei 230029, China;National Synchrotron Radiation Laboratory, University of Science and Technology of China, Hefei 230029, China;National Synchrotron Radiation Laboratory, University of Science and Technology of China, Hefei 230029, China;National Synchrotron Radiation Laboratory, University of Science and Technology of China, Hefei 230029, China
Abstract:
Keywords:Silver  Ceria  Growth  Electronic structure  X-ray photoelectron spectroscopy  Resonant photoelectron spectroscopy
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