首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

多晶薄膜屈服强度的一个模型
引用本文:张建民,徐可为,张美荣.多晶薄膜屈服强度的一个模型[J].物理学报,2003,52(5):1234-1239.
作者姓名:张建民  徐可为  张美荣
作者单位:(1)陕西师范大学图书馆,西安 710062; (2)陕西师范大学物理学与信息技术学院,西安 710062;西安交通大学金属材料强度国家重点实验室,西安 710049; (3)西安交通大学金属材料强度国家重点实验室,西安 710049
基金项目:国家自然科学基金重点项目(批准号:59931010)资助的课题.
摘    要:从位错运动的应力功和应变能关系导出了附着在基体上并有钝化层薄膜的屈服强度公式.该式表明多晶薄膜的屈服强度由两个影响因子(晶粒取向和位错类型)和三个强化因子(钝化层强化,基体强化和晶粒强化)确定.和已报道的实验结果基本一致表明了该模型的合理性. 关键词: 多晶薄膜 屈服强度

关 键 词:多晶薄膜  屈服强度
文章编号:1000-3290/2003/52(05)1234-06
收稿时间:2002-07-19
修稿时间:9/9/2002 12:00:00 AM

A model for the yield strength of a thin polycrystalline film
Zhang Jian-Min,Xu Ke-Wei and Zhang Mei-Rong.A model for the yield strength of a thin polycrystalline film[J].Acta Physica Sinica,2003,52(5):1234-1239.
Authors:Zhang Jian-Min  Xu Ke-Wei and Zhang Mei-Rong
Abstract:A simple expression for the yield strength of a thin polycrystalline film attached to a substrate and with a passivated layer has been derived from a relationship between stress work for dislocation moving and strain energy. It is shown that, the yield strength of a polycrystalline film is determined by two affecting factors (orientation of grains and type of dislocations) and three strengthening factors (passivated layer strengthening, substrate strengthening, and grain-size strengthening). Predictions from the expression are in agreement with reported experimental results. This shows that the model is reasonable.
Keywords:thin polycrystalline films  yield strength
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《物理学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《物理学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号