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中心波长为28.5nm多层膜镜反射率测量
引用本文:黄文忠,李英骏,谷渝秋,张杰,尤永禄,淳于书泰,何颍玲,雷安乐,陈正林,马月英,金春水.中心波长为28.5nm多层膜镜反射率测量[J].物理学报,2003,52(4):809-812.
作者姓名:黄文忠  李英骏  谷渝秋  张杰  尤永禄  淳于书泰  何颍玲  雷安乐  陈正林  马月英  金春水
作者单位:(1)中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳 621900; (2)中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳 621900;中国科学院物理研究所,北京 100080; (3)中国科学院长春光学精密机械和物理研究所,长春 130022; (4)中国科学院物理研究所,北京 100080; (5)中国科学院物理研究所,北京 100080;中国矿业大学物理系(北京校区),北京 100083
基金项目:国家自然科学基金(批准号:19974074和6018007)、国家高技术研究发展计划资助的课题.
摘    要:在“星光-Ⅱ”装置上以类Ne铬x射线激光作为标定源,以平场光栅谱仪为分光元件进行了285nm的Mo/Si多层膜反射镜效率测量.介绍了实验方法,给出了实验结果,本次研制的两块多层膜镜反射率分别为31%和9.6%. 关键词: x射线多层膜反射镜 反射率测量 x射线激光

关 键 词:x射线多层膜反射镜  反射率测量  x射线激光
文章编号:1000-3290(2003)04-0809-04
收稿时间:2001-12-18
修稿时间:2001年12月18

The reflectivity measurement of the 28.5nm multilayer mirror
Huang Wen Zhong,Li Yin Jun,Gu Yu Qiu,Zhang Jie,You Yong Lu,CunYu Shutai,He Ying Ling,Lei An Le,Chen Cheng Lin,Ma Yue Yin,Jin Chun Sui.The reflectivity measurement of the 28.5nm multilayer mirror[J].Acta Physica Sinica,2003,52(4):809-812.
Authors:Huang Wen Zhong  Li Yin Jun  Gu Yu Qiu  Zhang Jie  You Yong Lu  CunYu Shutai  He Ying Ling  Lei An Le  Chen Cheng Lin  Ma Yue Yin  Jin Chun Sui
Institution:Huang Wen Zhong 1) Li Yin Jun 2)3) Gu Yu Qiu 1) Zhang Jie 2) You Yong Lu 1) CunYu Shutai 1) He Ying Ling 1) Lei An Le 1) Chen Cheng Lin 1)2) Ma Yue Yin 4) Jin Chun Sui 4) 1)
Abstract:The reflectivity of the 28.5nm Mo/Si multilayer mirrors are measured at Xingguang-Ⅱ laser facility using a flat-field grating spectrograph with the Ne-like Cr x-ray laser as a soft x-ray source. The reflectivities obtained for two samples are 0031 and 0096.
Keywords:x  ray multilayer mirror    Reflectivity measure    x  ray laser
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