| 结合高分辨率X射线光电子能谱和拉曼散射研究GexGa8S92-x玻璃结构 |
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| 引用本文： | 许思维,王训四,沈祥.结合高分辨率X射线光电子能谱和拉曼散射研究GexGa8S92-x玻璃结构[J].物理学报,2023(1):257-264. |
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| 作者姓名： | 许思维 王训四 沈祥 |
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| 作者单位： | 1. 湖南文理学院数理学院;2. 宁波大学高等技术研究院,浙江省光电探测材料及器件重点实验室 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(批准号:62004067)； |
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| 摘 要： | 本文在固定Ga原子含量为8%的情况下,结合高分辨率X射线光电子能谱和拉曼散射光谱对硫系玻璃GexGa8S92-x(x=24%,26.67%,29.6%,32%和36%)的结构进行了研究.通过分析玻璃结构中各单元结构的演变情况,发现玻璃内部网络结构主要为S原子桥接GeS4和GaS4四面体结构.随着Ge含量的逐渐增大,S链状或环状结构单元迅速减少,并消失于Ge26.67Ga8S65.33玻璃组分中;而类乙烷结构S3Ge-GeS3中的Ge—Ge同极键和S3Ge/Ga-Ga/GeS3结构中的M—M (Ge—Ge,Ga—Ga或Ge—Ga)同极键同时出现于Ge29.6Ga8S62.4玻璃中,并且其结构数量随着Ge含量的增大而逐渐增加.由此可以判定,首先,在硫系玻璃GexGa8
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| 关 键 词： | 硫系玻璃 结构 X射线光电子能谱 拉曼散射 |
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