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a—Si:O:H薄膜微结构及其高温退火行为研究
引用本文:王永谦,陈长勇,陈维德,杨富华,刁宏伟,许振嘉,张世斌,孔光临,廖显伯. a—Si:O:H薄膜微结构及其高温退火行为研究[J]. 物理学报, 2001, 50(12): 2418-2422
作者姓名:王永谦  陈长勇  陈维德  杨富华  刁宏伟  许振嘉  张世斌  孔光临  廖显伯
作者单位:1. 中国科学院半导体研究所凝聚态物理中心,表面物理国家重点实验室,北京,100083
2. 中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金(批准号:69976028)和国家重点基础研究发展计划项目(批准号:2000028201)资助的课题.
摘    要:以微区Raman散射、X射线光电子能谱和红外吸收对等离子体增强化学气相沉积(PECVD)法制备的氢化非晶硅氧(a-Si:O:H)薄膜微结构及其退火行为进行了细致研究。结果表明a-Si:O:H薄膜具有明显的相分离结构,富Si相镶嵌于富O相之中,其中富Si相为非氢化四面体结构形式的非晶硅(a-Si),富O相为Si,O,H三种原子随机键合形成的SiOx:H(x≈1.35)。经1150℃高温退火,薄膜中的H全部释出;SiOx:H(x≈1.35)介质在析出部分Si原子的同时发生结构相变,形成稳定的SiO2和SiOx(x≈0.64);在析出的Si原子参与下,薄膜中a-Si颗粒固相晶化的成核和生长过程得以进行,形成纳米晶硅(nc-Si),研究发现此时的薄膜具有典型的壳层结构,在nc-Si颗粒表面和外围SiO2介质之间存在着纳米厚度的SiOx(x≈0.64)中间相。

关 键 词:a-Si:O:H 微结构 高温退火 薄膜 氢化非晶硅氧
文章编号:1000-3290/2001/50(12)2418-05
修稿时间:2001-05-30

THE MICROSTRUCTURE AND ITS HIGH-TEMPERATURE ANNEALING BEHAVIOURS OF a-Si: O: HFILM
Abstract:
Keywords:
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